SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Osa numero
SN74LVTH182512DGGR
Valmistaja/merkki
Sarja
74LVTH
Osan tila
Active
Pakkaus
Cut Tape (CT)
Käyttölämpötila
-40°C ~ 85°C
Asennustyyppi
Surface Mount
Paketti / kotelo
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Toimittajan laitepaketti
64-TSSOP
Syöttöjännite
2.7 V ~ 3.6 V
Bittien määrä
18
Logiikkatyyppi
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Pyydä tarjous
Täytä kaikki pakolliset kentät ja napsauta "LÄHETÄ. Otamme sinuun yhteyttä sähköpostitse 12 tunnin kuluessa. Jos sinulla on ongelmia, jätä viesti tai sähköposti osoitteeseen [email protected], vastaamme mahdollisimman pian.
Varastossa 17539 PCS
Yhteystiedot
Liittyvät tuotteet
Avainsanat aiheesta SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR Elektroniset komponentit
SN74LVTH182512DGGR Myynti
SN74LVTH182512DGGR Toimittaja
SN74LVTH182512DGGR Jakelija
SN74LVTH182512DGGR Tietotaulukko
SN74LVTH182512DGGR Kuvat
SN74LVTH182512DGGR Hinta
SN74LVTH182512DGGR Tarjous
SN74LVTH182512DGGR Alin hinta
SN74LVTH182512DGGR Hae
SN74LVTH182512DGGR Ostaminen
SN74LVTH182512DGGR Chip